Medidor de espesor de revestimiento Fischerscope X-Ray XDVM-W

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Medidor de espesor de revestimiento Fischerscope X-Ray XDVM-W

Tipo: XDVM-T7-W
Sistema de sistema de rayos X
Máquina según normas CE.
Año de construcción 2004

Presentacion de Fischerscope X-Ray XDVM-W

El Fischerscope® X-Ray XDVM®-W puede medir el espesor del recubrimiento y la composición de aleación de prácticamente cualquier sistema de recubrimiento metálico.
El FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM® -W puede medir el espesor del recubrimiento y la composición de la aleación de prácticamente cualquier sistema de recubrimiento metálico, incluidos los recubrimientos de aleación simples, binarios y ternarios, los recubrimientos dobles, los recubrimientos dobles con una capa de aleación y los recubrimientos triples.
El XDVM-W es ideal para mediciones de grosor de revestimiento de alto volumen en tornillos, contactos de conector, tiras de contacto, tableros de PC. El sistema mide según el método de prueba ASTM B568 o DIN 50987 e ISO 3497 respectivamente.
El FISCHERSCOPE XDVM-W cuenta con una carcasa de chapa metálica sólida para la cámara de medición y un cómodo acceso a la gran cámara de medición ranurada (560 mm x 530 mm x 160 mm / 22 "x 20,9" x 6,3 ") que es adecuada para ambos y muestras muy grandes. Etapas de medición XY de alta precisión, rápidas y programables de 175 mm X 175 mm (6.9 "X 6.9") y 250 mm X 250 mm (9.8 "X - 9.8"). El cabezal de medición es programable en el eje Z, con una distancia de recorrido de 145 mm (5.7 "). El viaje rápido a las coordenadas XYZ se logra con el clic de un mouse.
Los usuarios pueden seleccionar entre dos conjuntos de colimadores, cada uno con cuatro aberturas. El posicionamiento de la muestra, simple pero preciso, se logra con una cámara de video en color de alta resolución que incluye una ampliación intercambiable y una pantalla de punto de prueba real a escala insertada en forma de cruz, especialmente importante para mediciones en estructuras muy pequeñas. El XDVM-W incluye un microfoco, un tubo de rayos X de alto rendimiento, filtros primarios de Ni y Be, un tubo contador proporcional lleno de xenón con procesamiento interno del espectro ADC de 4096 canales con compresión a 256 canales para visualización externa y cuatro planos focales para Distancia de medición hasta 90 mm.
El nuevo XDVM-W presenta el nuevo y poderoso software WinFTM® de Fischer que se ejecuta bajo Windows ™ 95/98 y Windows ™ NT. WinFTM proporciona alta precisión.
Medición basada en un análisis único del espectro de fluorescencia a través del método simple y versátil de FP (parámetro fundamental), más preciso y efectivo que la técnica de deconvolución máxima. Todas las propiedades físicas relacionadas con el método de fluorescencia de rayos X son simuladas por computadora, eliminando la necesidad de estándares de calibración. La única entrada necesaria es la definición del material del sustrato. El software puede manejar aplicaciones extremadamente difíciles, incluyendo recubrimientos triples, incluso el mismo elemento.
Las funciones estadísticas y SPC completas se incluyen en WinFTM con el cálculo de todos los parámetros estadísticos. El módulo editor de plantillas de formulario de impresión permite configurar formatos específicos del cliente con la capacidad de integrar la imagen de video de la muestra o cualquier otro archivo BMP, guardado como un documento de Microsoft Word.