Misuratore di spessori Fischerscope

Il FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-W può misurare lo spessore del rivestimento e la composizione della lega di qualsiasi sistema di rivestimento metallico, compresi rivestimenti in lega singola, binaria e ternaria, doppi rivestimenti con o senza uno strato di lega e tripli rivestimenti.

XDVM-W è ideale per la misurazione dello spessore del rivestimento ad alto volume su viti, connettori, strisce di contatto, schede PC. Il sistema misura in base al metodo di prova ASTM B568 o DIN 50987 e ISO 3497.

Il FISCHERSCOPE XDVM-W è dotato di un solido alloggiamento in lamiera per la camera di misurazione e di un comodo accesso alla grande camera di misurazione scanalata (560 mm X 530 mm X 160 mm / 22 "X 20,9" X 6,3 ") adatto a entrambi i campioni di misurazione XY di alta precisione, veloci e programmabili. I campioni hanno una corsa di 175 mm X 175 mm (6.9 "X 6.9") e 250 mm X 250 mm (9.8 "X - 9.8"). La testa di misura è programmabile sull'asse Z, con una corsa di 145 mm (5,7 "). Il rapido viaggio verso le coordinate XYZ si ottiene con un clic del mouse.

Gli utenti possono selezionare tra due gruppi di collimatori, ciascuno con quattro aperture. Il posizionamento semplice ma preciso del campione viene eseguito utilizzando una videocamera a colori ad alta risoluzione che include l'ingrandimento commutabile e il display a punti di prova con croce vero e proprio, particolarmente importante per le misurazioni su strutture molto piccole. XDVM-W comprende un tubo a raggi X a microprocura ad alte prestazioni, filtri primari Ni e Be, tubo contatore proporzionale riempito di Xenon con elaborazione interna dello spettro ADC a 4096 canali con compressione a 256 canali per display esterno e quattro piani focali per misurare vicino ai gradini e nei recessi con una differenza di altezza fino a 90 mm.

XDVM-W presenta il nuovo potente software WinFTM® di Fischer che funziona con Windows ™ 95/98 e Windows ™ NT. WinFTM fornisce alta precisione.

La misurazione è basata su un'analisi unica dello spettro di fluorescenza attraverso il metodo FP, semplice e versatile (parametro fondamentale), più accurato ed efficace della tecnica di de convoluzione di picco. Tutte le proprietà fisiche relative al metodo di fluorescenza a raggi X sono simulate al computer, eliminando la necessità di standard di calibrazione. L'unico input necessario dall'utente è il numero di strati ed elementi presenti nel rivestimento, nonché una definizione del materiale del substrato. Il software è in grado di gestire anche applicazioni estremamente difficili, compresi i tripli rivestimenti, anche se lo stesso elemento si verifica più di una volta.

Funzioni complete statistiche e SPC sono incluse in WinFTM con calcolo per tutti i parametri statistici. Un modulo di editor di modelli di moduli di stampa consente l'impostazione di formati specifici del cliente con la possibilità di integrare l'immagine video del campione o di qualsiasi altro file BMP, salvata come documento di Microsoft Word.